AMCOM的GaAs MMIC PAs系列產品推出最新EM封裝 性能更好
發布時間:2018-08-27 11:37:58 瀏覽:1655
AMCOM的GaAs MMIC PAs系列產品,最近新出了EM 封裝,是替代之前的FM封裝的,預計未來一到兩年后全部替換成EM, FM依然可以繼續購買。 EM的性能更好,更有優勢。
EM封裝的設計圖
注釋:
1、零件/材料清單:
描述 |
材料 |
引線框架 |
銅 |
環框 |
氧化鋁的類型1 每ASTM d2442 |
輪緣 |
CuW (75W;25Cu) |
1.1材料和/或制造過程的任何變更應以書面形式批準。
1.2所有裝運貨物的分析證明書應存檔不少于三年。應按要求提供證書復印件。
2、要求:
3、
2.1鎳板要求:
2.1.1鍍層厚度:100微英寸最小氨基磺酸鎳在區域-E的中心測量。
2.1.2鎳厚度數據應保存在文件中,并根據客戶要求提供信息。
2.2金板要求:
2.2.1鍍金應符合MIL-STD-4204,第1類,III型的分類要求;在金礦床中,鉈作為光亮劑或晶粒細化劑的使用是禁止的。
2.2.2金純度分析證書應由供應商提供,以備不少于超過三年。應要求客戶提供證書復印件。
2.2.3鍍層厚度:最小50英寸,最小測量區域E--。
3、檢驗/試驗:
3.1膠粘劑接頭:
3.1.1鍵合界面為90%無空隙。
3.2.2在聚合物到法蘭粘接接頭中的空隙或不連續性是可接受的,規定包裝通道具有泄漏一致性,MI-STD-883方法1014.10C。
3.2平坦度:
3.2.1區-E(交叉區域)為0.0010平。
3.3對齊:
3.3.1聚合物對法蘭的角向排列,最大3°。
3.4熱周期:
3.4.1鍍金應在空氣氣氛中進行320°C±5°C,持續5分鐘±30秒。經過熱處理包裝。
3.4.2引線拉力:引線在拉90°到環框平面時應承受最小0.66磅遠離基準面。
3.4.3可焊性:引線應按MIL-STD750,方法2026可焊(省略除資格以外的蒸汽老化)。
3.5隔離泄漏應在法蘭和引線之間的200 VDC處為1微安,并導致引線。
3.6引線框不能延伸到環框空腔邊緣。
DAMAGE
PLATING
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